DC~110GHz ஒற்றை மற்றும் இரட்டை போர்ட் ப்ரோப், DC~40GHz கைமுறை ப்ரோப்

ரேடியோ அதிர்வெண் ஆய்வுக் கருவி என்பது உயர் அதிர்வெண் சமிக்ஞைச் சோதனைக்கான ஒரு முக்கியக் கருவியாகும். இது மின்னணுச் சுற்றுகள், குறைக்கடத்திச் சாதனங்கள் மற்றும் தகவல் தொடர்பு அமைப்புகளின் அளவீடு மற்றும் பகுப்பாய்வில் பரவலாகப் பயன்படுத்தப்படுகிறது.

பண்புகள்:
1. உயர் துல்லிய அளவீடு: RF ஆய்வுக்கருவிகள், அதிர்வெண், வீச்சு, கட்டம் போன்ற RF சமிக்ஞைகளின் அளவுருக்களைத் துல்லியமாக அளவிட முடியும். அதன் சிறப்பு வடிவமைப்பு மற்றும் உற்பத்தி செயல்முறை, அளவீட்டுத் தரவுகளின் துல்லியத்தையும் நம்பகத்தன்மையையும் உறுதி செய்கின்றன.
2. வேகமான பதில்வினை: RF ஆய்வுக்கருவிகளின் பதில்வினை வேகம் மிகவும் விரைவானது, மேலும் சமிக்ஞை அளவீட்டை மிகக் குறுகிய நேரத்தில் முடிக்க முடியும், இது விரைவான சோதனையின் தேவைகளைப் பூர்த்தி செய்கிறது.
3. நல்ல நிலைத்தன்மை: நீண்ட காலப் பயன்பாட்டின் போது, ​​RF ஆய்வுக்கருவியின் செயல்திறன் நிலையானதாக இருப்பதுடன், சுற்றுச்சூழல் அல்லது பிற வெளிப்புறக் காரணிகளால் எளிதில் பாதிக்கப்படுவதில்லை.
4. உயர் அதிர்வெண் பரிமாற்றத் திறன்: RF ஆய்வுக்கருவிகள் பத்து ஜிகாஹெர்ட்ஸ் அல்லது அதற்கும் அதிகமான அதிர்வெண்கள் வரையிலான சிக்னல்களைச் செயலாக்கும் திறன் கொண்டிருப்பதால், அவை நவீன உயர் அதிர்வெண் சுற்றுகள் மற்றும் தகவல் தொடர்பு சாதனங்களின் சோதனைத் தேவைகளுக்கு ஏற்றவையாக உள்ளன.

விண்ணப்பம்:
1. தகவல் தொடர்பு அமைப்பு சோதனை: தகவல் தொடர்பு, ரேடார் மற்றும் RF ஒருங்கிணைந்த சுற்றுகளுக்குப் பொருந்தும். ரேடியோ அலைவரிசை, RF ஆற்றல் மற்றும் மோடம் செயல்திறனை மதிப்பிடுவதற்கும் மேம்படுத்துவதற்கும் பயன்படுத்தப்படுகிறது.
2. ரேடார் அமைப்பு சோதனை: ரேடார் பெறுவானின் உணர்திறன், அதிர்வெண் துலங்கல் மற்றும் குறுக்கீடு எதிர்ப்புத் திறன் ஆகியவற்றை அளவிடவும்.
3. RF ஒருங்கிணைந்த சுற்றுச் சோதனை: ஒருங்கிணைந்த சுற்றுகளின் அதிர்வெண் பண்புகள், மின் நுகர்வு மற்றும் வெப்ப மேலாண்மை ஆகியவற்றை பகுப்பாய்வு செய்து மேம்படுத்துதல்.
4. ஆண்டெனா சோதனை: ஆண்டெனாவின் செயல்திறனை மதிப்பீடு செய்து மேம்படுத்துதல்.
5. மின்னணுப் போர் அமைப்பு: மின்னணுப் போர் உபகரணங்களின் RF செயல்திறனைச் சோதித்துப் பகுப்பாய்வு செய்யப் பயன்படுகிறது.
6. மைக்ரோவேவ் ஒருங்கிணைந்த சுற்றுகள் (MMICs) மற்றும் பிற சாதனங்களின் செயல்திறனை அளவிடுவதுடன், சிப் மட்டத்தில் RF கூறுகளின் உண்மையான பண்புகளையும் அளவிட முடியும்.